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3D掃描儀結構光三維測量原理應用與挑戰(zhàn)

2023-07-05

隨著計算機技術和計算機圖形學的快速發(fā)展,基于結構光的3D掃描儀已經成為三維測量的主要趨勢,也是三維測量學術領域的研究熱點。  

結構光投射于被掃描物體表面形成光柵,相機對被掃描物體進行拍攝,如果物體形狀在深度上有變化,則光柵條紋也會發(fā)生彎曲。通過計算機對拍攝到的光柵條紋進行分析,獲得物體表面各點的坐標基于結構光的三維測量能夠快速、非接觸式地獲取被測目標的三維信息,為目標重建提供大量的三維數據。  

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3D掃描儀根據物體造成的結構光信號的變化來計算物體的位置和深度等信息,進而復原整個三維空間。但是現有技術中的結構光通常采用白光或藍光,藍光的相干長度長,在掃描過程中抗環(huán)境光線干擾能力強,掃描精度高于白光。但是藍光具有極高能量,能夠穿透晶狀體直達視網膜,引起視網膜色素上皮細胞的萎縮甚至死亡。光敏感細胞的死亡將會導致視力下降甚至完全喪失。因此藍光不利于人眼健康,白光的相干長度短,在掃描時容易受環(huán)境光線影響,影響掃描精度。


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